Ponencias en congresos:
Electron Energy Loss Spectroscopy for the analysis of AlN/GaN interfaces in MBE grown distributed Bragg Reflectors
Electron Energy Loss Spectroscopy for the analysis of AlN/GaN interfaces in MBE grown distributed Bragg Reflectors
Año:2013
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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EURO MBE 2013, 17th European Molecular Beam Epitaxy Workshop |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Levi (Finland), 2013 |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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10/03/2013 |
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Fecha fin congreso
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13/03/2013 |
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3 |
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Título de las actas
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Proceedings |
Participantes
- Participante: A. Eljarrat
- Autor: L. López-Conesa
- Autor: Zarko Gacevic (UPM)
- Autor: S. Fernández-Garrido
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: C. Magén
- Autor: S. Estradé
- Autor: F. Peiró
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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