Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
UV LEDs reliability tests for fluoro-sensing sensor application
Año:2014
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,137
Información de impacto
Volumen
54
DOI
10.1016/j.microrel.2014.07.059
Número de revista
9-10
Desde la página
2154
Hasta la página
2158
Mes
Ranking
0
Participantes
  • Autor: f. j. arques-orobon (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
  • Autor: m. vazquez (UPM)
  • Autor: v. gonzalez-posadas (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Departamento: Electrónica Física
  • Departamento: Teoría de la Señal y Comunicaciones (Provisional)
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