Memorias de investigación
Artículos en revistas:
InAs quantum dot morphology after capping with In, N, Sb alloyed thin films
Año:2014

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
APPLIED PHYSICS LETTERS
ISSN
0003-6951
Factor de impacto JCR
3,794
Información de impacto
Volumen
104
DOI
10.1063/1.4864159
Número de revista
5
Desde la página
0
Hasta la página
5
Mes
Ranking
0

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes
  • Autor: j. m. ulloa UPM
  • Autor: a. d. utrilla
  • Autor: j. g. keizer
  • Autor: p. m. koenraad

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ciencia de Materiales
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología