Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Optical characterization of extremely small volumes of liquid in sub-micro-holes by simultaneous reflectivity, ellipsometry and spectrometry.
Año:2007
Áreas de investigación
  • Circuitos electrónicos,
  • Dispositivos electrónicos
Datos
Descripción
We have fabricated and characterized a lattice of submicron cone-shaped holes on a SiO2/Si wafer. Reflectivity profiles as a function of angle of incidence and polarization, phase shift and spectrometry are obtained for several fluids with different refractive indexes filling the holes. The optical setup allows measuring in the center of a single hole and collecting all data simultaneously, which can be applied for measuring extremely low volumes of fluid (in the order of 0.1 femtolitres) and label-free immunoassays, as it works as a refractive index sensor. A three layer film stack model is defined to perform theoretical calculations.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
OPT EXPRESS
ISSN
1094-4087
Factor de impacto JCR
3,709
Información de impacto
Volumen
15
DOI
Número de revista
0
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SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Rafael Casquel Del Campo (UPM)
  • Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
  • Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
  • Autor: Miguel Morales Furio (UPM)
  • Autor: Miguel Holgado Bolaños (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
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