Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Semi-quantitative temperature accelerated life test (ALT) for the reliability qualification of concentrator solar cells and cell on carriers
Año:2015
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Se trata de la realización de ensayos acelerados de fiabilidad en células solares de concentración.Se obtienen los parámetros de fiabilidad más representativos en este tipo de dispositivos.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Progress in Photovoltaics
ISSN
1062-7995
Factor de impacto JCR
9,696
Información de impacto
Datos JCR del año 2013
Volumen
23
DOI
10.1002/pip.2631
Número de revista
12
Desde la página
1857
Hasta la página
1866
Mes
DICIEMBRE
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Vincenzo Orlando (UPM)
  • Autor: Pilar Espinet (UPM)
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Electrónica Física
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