Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Semi-quantitative temperature accelerated life test (ALT) for the reliability qualification of concentrator solar cells and cell on carriers
Year:2015

Research Areas
  • Electronics engineering

Information
Abstract
Se trata de la realización de ensayos acelerados de fiabilidad en células solares de concentración.Se obtienen los parámetros de fiabilidad más representativos en este tipo de dispositivos.
International
Si
JCR
Si
Title
Progress in Photovoltaics
ISBN
1062-7995
Impact factor JCR
9,696
Impact info
Datos JCR del año 2013
Volume
23
10.1002/pip.2631
Journal number
12
From page
1857
To page
1866
Month
DICIEMBRE
Ranking
Participants

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Departamento: Electrónica Física