Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Sophisticated security verification on routing repaired balanced cell-based dual-rail logic against side channel analysis
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IET INFORMATION SECURITY
ISSN
1751-8709
Factor de impacto JCR
0,623
Información de impacto
Volumen
9
DOI
10.1049/iet-ifs.2013.0058
Número de revista
1
Desde la página
1
Hasta la página
13
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: wei he (UPM)
  • Autor: andres otero (UPM)
  • Autor: shivam bhasin
  • Autor: eduardo de la torre (UPM)
  • Autor: tarik graba
  • Autor: jean-luc danger
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Electrónica Industrial
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Electrónica Industrial. CEI
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