Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Sputtered Al((1-x))Sc(x)A thin films with high areal uniformity for mass production
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
2015 JOINT CONFERENCE OF THE IEEE INTERNATIONAL FREQUENCY CONTROL SYMPOSIUM & THE EUROPEAN FREQUENCY AND TIME FORUM (FCS)
ISSN
1075-6787
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
117
Hasta la página
120
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Mario De Miguel Ramos (UPM)
  • Autor: v. felmetsger
  • Autor: m. clement (UPM)
  • Autor: m. mikhov
  • Autor: j. olivares (UPM)
  • Autor: t. mirea (UPM)
  • Autor: e. iborra (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Microsistemas y Materiales Electrónicos
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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