Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Procedimiento de medida de parámetros magnéticos y de los armónicos temporales tanto en fase como en cudratura del momento magnético de pequeñas muestras excitadas con campos magnéticos alternos o continuos y dispositivo la puesta en práctica del procedimiento
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
El procedimiento permite caracterizar materiales magnéticos aplicando campos magnéticos alternos en un amplio rango de frecuencias utilizando un sistema mecánico resonante. El sistema tiene una elevada sensibilidad y permite medir la imanación de muestras muy pequeñas, del orden de ¿g y la permeabilidad o susceptibilidad magnética de la muestra, tanto su parte real como su parte imaginaria. Esta gran variedad de medidas se puede realizar porque la caracterización se hace con campos magnéticos creados con corrientes alternas. El dispositivo que se prevé define un susceptómetro de gradiente de campo alterno que puede trabajar con campos excitadores de cualquier frecuencia. Para ello, el dispositivo consta de un electroimán (11) de ferrita capaz de generar campos tanto continuos como alternos del orden de 0,3 T, un sistema mecánico resonante de microlengüeta (2) oscilante, un sistema de detección (4) de posición del sistema resonante y unos carretes de hilo de cobre (6), capaces de generar un gradiente alterno de campo magnético.
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P201331745
En explotación
No
Licenciatarios
Fecha solicitud
29/11/2013
Titulares aparte de la UPM
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Inventor Contacto: Claudio Aroca Hernandez-Ros (UPM)
  • Inventor: Pedro Cobos Arribas (UPM)
  • Inventor: Ignacio De Mendizabal Vazquez (UPM)
  • Inventor: Marina Perez Jimenez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de dispositivos magnéticos del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Electrónica Física
  • Departamento: Ingeniería Telemática y Electrónica
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