Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Statistically-Aided Electronic Design Environment
Año:2016
Áreas de investigación
  • Circuitos electrónicos,
  • Herramientas de diseño de circuitos integrados
Datos
Descripción
This work presents SAEDE (Statistically-Aided Electronic Design Environment), a framework targeted to perform advanced statistical analysis within an ASIC design workflow, linking together circuit performance with technological parameters. A driving example, the design of a 10-stage delay line, is conducted. The study goals are two-fold: extract a circuit performance metric, the spread of the stage-delay, and determine its most sensitive BSIM4 transistor parameters. To achieve these goals, two statistical tools, new to ASIC design work-flow, have been used: Skew-Normal inference and BAHSIC feature selection. Consistent results are obtained, relating BSIM4 parameters to circuit performance impossible to grasp by analytical terms.
Internacional
Si
Nombre congreso
Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2016 13th International Conference on
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Lisboa, Portugal
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-5090-0490-4
DOI
10.1109/SMACD.2016.7520734
Fecha inicio congreso
27/06/2016
Fecha fin congreso
30/06/2016
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Título de las actas
Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2016 13th International Conference on
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Carlos Gil Soriano (N/A)
  • Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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