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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS DEL ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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20th Microscopy of Semi Conducting Materials |
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Tipo de participación
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970 |
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Lugar del congreso
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Oxford (United Kingdom) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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09/04/2017 |
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Fecha fin congreso
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13/04/2017 |
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Título de las actas
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Proceedings |