Descripción
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Relacionado con líneas de investigación del GDS ISOM | |
Internacional
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Si |
ISSN o ISBN
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0000000000000 |
Entidad relacionada
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17th conference on Defects-Recognition, Imaging and physics in Semiconductors-DRIP XVII, |
Nacionalidad Entidad
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Sin nacionalidad |
Lugar del congreso
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Valladolid, Octubre 2017. |