Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Proyecto de I+D+i:
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
Año:2017
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Microelectrónica,
  • Nanoelectrónica,
  • Circuitos electrónicos,
  • Diseño microelectrónico
Datos
Descripción
Los circuitos fabricados con tecnologías nanométricas se encuentran sometidos a una gran variabilidiad tanto estática (proceso) como dinámica (temperatura, tension y envejecimiento). Para que aumente la fiabilidad de los circuitos, los diseñadores se ven obligados a implementar mecanismos que faciliten la convivencia con esta variabilidad. En este proyecto se propone en primer lugar el diseño y la implementacion de sensores robustos para utilizar en redes de monitorización de variabilidad. Se plantea, además, que los sensores se diseñen tolerantes a envejecimiento y a radiación, dos variables que afectan de forma significativa a las prestaciones de los circuitos electrónicos nanométricos, incluso a nivel de tierra. Para poder validar los sensores realizados antes de su fabricación, se va a desarrollar un entorno de simulación complejo que permita tratar las tres facetas abordadas en el proyecto, variabilidad, envejecimiento y radiación, de forma sistemática y eficaz. Por otro lado, existe un lado positivo asociado a la variabilidad: hay sistemas que requieren una componente de aleatoriedad que pueden obtenerse de la variabilidad que sufre el mismo circuito. Esto sucede con frecuencia en sistemas de autenticación o de seguridad. Se propone, por lo tanto, realizar diseños para dos circuitos básicos en este tipo de sistemas: PUF (Physiscally Unclonable Functions) y RNGs (Random Number Generators) utilizando para ello sensores de variabilidad. Finalmente, se explorará la utilidad de dispositivos emergentes aprovechando la experiencia del grupo investigador en el modelado y simulacion de memristores. En este sentido se da un paso más allá y se propone la utilización este tipo de dispositivos emergentes en la implementación de algún sensor de variabilidad.
Internacional
No
Tipo de proyecto
Proyectos y convenios en convocatorias públicas competitivas
Entidad financiadora
Ministerio de Economía y Competitividad
Nacionalidad Entidad
ESPAÑA
Tamaño de la entidad
Gran Empresa (>250)
Fecha concesión
01/01/2013
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Director: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Participante: Carlos Alberto Lopez Barrio (UPM)
  • Participante: Pablo Ituero Herrero (UPM)
  • Participante: Javier Agustin Saenz (UPM)
  • Participante: Hernan Aparicio Cerqueira (UPM)
  • Participante: Fernando Garcia Redondo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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