Memorias de investigación
Research Project:
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
Year:2017

Research Areas
  • Electronic technology and of the communications,
  • Microelectronics,
  • Nanoelectronics,
  • Electronic circuits,
  • Microelectronic design

Information
Abstract
Los circuitos fabricados con tecnologías nanométricas se encuentran sometidos a una gran variabilidiad tanto estática (proceso) como dinámica (temperatura, tension y envejecimiento). Para que aumente la fiabilidad de los circuitos, los diseñadores se ven obligados a implementar mecanismos que faciliten la convivencia con esta variabilidad. En este proyecto se propone en primer lugar el diseño y la implementacion de sensores robustos para utilizar en redes de monitorización de variabilidad. Se plantea, además, que los sensores se diseñen tolerantes a envejecimiento y a radiación, dos variables que afectan de forma significativa a las prestaciones de los circuitos electrónicos nanométricos, incluso a nivel de tierra. Para poder validar los sensores realizados antes de su fabricación, se va a desarrollar un entorno de simulación complejo que permita tratar las tres facetas abordadas en el proyecto, variabilidad, envejecimiento y radiación, de forma sistemática y eficaz. Por otro lado, existe un lado positivo asociado a la variabilidad: hay sistemas que requieren una componente de aleatoriedad que pueden obtenerse de la variabilidad que sufre el mismo circuito. Esto sucede con frecuencia en sistemas de autenticación o de seguridad. Se propone, por lo tanto, realizar diseños para dos circuitos básicos en este tipo de sistemas: PUF (Physiscally Unclonable Functions) y RNGs (Random Number Generators) utilizando para ello sensores de variabilidad. Finalmente, se explorará la utilidad de dispositivos emergentes aprovechando la experiencia del grupo investigador en el modelado y simulacion de memristores. En este sentido se da un paso más allá y se propone la utilización este tipo de dispositivos emergentes en la implementación de algún sensor de variabilidad.
International
No
Project type
Proyectos y convenios en convocatorias públicas competitivas
Company
Ministerio de Economía y Competitividad
Entity Nationality
ESPAÑA
Entity size
Gran Empresa (>250)
Granting date
01/01/2013
Participants

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica