Ponencias en congresos:
Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Año:2017
Áreas de investigación
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Ingenierías
Datos
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Descripción
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| This work presents a model that helps to evaluate the uncertainty in measurements collected by optical measuring machines when using the Monte Carlo method. | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Manufacturing Engineering Society International Conference 2017, MESIC 2017, 28-30 June 2017 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Vigo (Pontevedra), Spain |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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2351-9789 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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28/06/2017 |
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Fecha fin congreso
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30/06/2017 |
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Desde la página
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477 |
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Hasta la página
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483 |
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Título de las actas
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Book of abstracts Manufacturing Engineering Society International Conference 2017 (MESIC2017) . Transforming knowledge towards manufacturing 4.0 Ares Gómez, J. Enrique / Salgueiro Gómez, Jorge / Fernández López, Fco. Javier / Pelaez Lourido, Gustavo |
Participantes
- Autor: Miguel Berzal Rubio (UPM)
- Autor: Emilio Gomez Garcia (UPM)
- Autor: Jesus Caja Garcia (UPM)
- Autor: Cintia Barajas Fernandez (UPM)
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- Creador: Grupo de Investigación: Metrología Dimensional
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