Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Año:2017
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
This work presents a model that helps to evaluate the uncertainty in measurements collected by optical measuring machines when using the Monte Carlo method.
Internacional
Si
Nombre congreso
Manufacturing Engineering Society International Conference 2017, MESIC 2017, 28-30 June 2017
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Vigo (Pontevedra), Spain
Revisores
Si
ISBN o ISSN
2351-9789
DOI
Fecha inicio congreso
28/06/2017
Fecha fin congreso
30/06/2017
Desde la página
477
Hasta la página
483
Título de las actas
Book of abstracts Manufacturing Engineering Society International Conference 2017 (MESIC2017) . Transforming knowledge towards manufacturing 4.0 Ares Gómez, J. Enrique / Salgueiro Gómez, Jorge / Fernández López, Fco. Javier / Pelaez Lourido, Gustavo
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Miguel Berzal Rubio (UPM)
  • Autor: Emilio Gomez Garcia (UPM)
  • Autor: Jesus Caja Garcia (UPM)
  • Autor: Cintia Barajas Fernandez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Metrología Dimensional
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