Artículos en revistas:
A temperature variation tolerant CMOS-only voltage reference for RFID applications
A temperature variation tolerant CMOS-only voltage reference for RFID applications
Año:2018
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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2018 28TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON POWER AND TIMING MODELING, OPTIMIZATION AND SIMULATION (PATMOS) |
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ISSN
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2474-5456 |
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Factor de impacto JCR
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0 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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Mes
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Ranking
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Participantes
- Autor:
asghar bahramali (UPM) - Autor: Asghar Bahramali (UPM)
- Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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