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Confidence Distance Matrix for outlier identification: A new method to improve the characterizations of surfaces measured by confocal microscopy
Confidence Distance Matrix for outlier identification: A new method to improve the characterizations of surfaces measured by confocal microscopy
Año:2019
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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MEASUREMENT |
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ISSN
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0263-2241 |
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Factor de impacto JCR
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2,218 |
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Información de impacto
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Volumen
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137 |
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DOI
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10.1016/j.measurement.2019.01.043 |
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Número de revista
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Desde la página
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484 |
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Hasta la página
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500 |
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Mes
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Ranking
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0 |
Participantes
- Autor:
chen wang (UPM) - Autor: Roberto D'Amato (UPM)
- Autor: Emilio Gomez Garcia (UPM)
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