Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Reassessing InGaAs for Logic: Mobility Extraction in sub-10nm Fin-Width FinFETs
Año:2019
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
We study the performance degradation of InGaAs FinFETs as they scale to sub-10 nm fin width. This is often attributed to degradation in intrinsic transport parameters. High frequency measurements, however, indicate increasingly severe oxide trapping as the fin width narrows. This is confirmed by pulsed- IV measurements. A new mobility extraction method using concurrent S-parameter and DC-IV measurements avoids the impact of oxide trapping and reveals promising mobility in thin-channel InGaAs planar MOSFETs and narrow-width FinFETs. Our study suggests that performance degradation of InGaAs FinFETs is largely an extrinsic phenomenon that can be engineered around and that the potential performance of deeply-scaled InGaAs FinFETs is significantly underestimated.
Internacional
Si
Nombre congreso
2019 Symposium on VLSI Technology
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Kyoto, Japan.
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-4-86348-717-8
DOI
10.23919/VLSIT.2019.8776578
Fecha inicio congreso
09/06/2019
Fecha fin congreso
14/06/2019
Desde la página
246
Hasta la página
247
Título de las actas
Proceedings 2019 Symposium on VLSI Technology
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Xiaowei Cai (Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA. USA)
  • Autor: Alon Vardi (Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA. USA)
  • Autor: Jesus Grajal De la Fuente (UPM)
  • Autor: Jesús A. del Alamo (Massachusetts Institute of Technology (MIT), Cambridge, MA. USA)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Microondas y Radar
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Señales, Sistemas y Radiocomunicaciones
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