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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación de Sensores y Detectores de Uv y Transistores HEMT | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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IEEE T ELECTRON DEV |
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ISSN
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0741-3106 |
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Factor de impacto JCR
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2,165 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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0 |
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Ranking
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