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Descripción
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| RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION DEL GRUPO | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Microscopy & Microanalysis Meeting |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Albuquerque, New Mexico (USA), 2008 |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000-0000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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03/08/2008 |
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Fecha fin congreso
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07/08/2008 |
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Título de las actas
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Correlating Composition and Luminescence Variations in III-Nitride Semiconductor Alloys |