Memorias de investigación
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Curso postgrado UPM INGENIERÍA DE CALIDAD Y FIABILIDAD ELECTRÓNICA Fiabilidad para la Ingeniería Electrónica (FIABE-T?08) ¿ Módulos 1 y 2
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Curso postgrado UPM
Internacional
No
Nombre congreso
INGENIERÍA DE CALIDAD Y FIABILIDAD ELECTRÓNICA
Entidad organizadora
EUITT_UPM
Nacionalidad Entidad
ESPAÑA
Lugar/Ciudad de impartición
Madrid
Fecha inicio
16/06/2008
Fecha fin
20/06/2008
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física