Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Reliability analysis of temperature step-stress tests on III-V high concentrator solar cells
Año:2009
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
III¿V high concentrator solar cells are promising candidates for reducing the cost of photovoltaic electricity in terrestrial applications. However, the knowledge on the reliability of these devices is still scarce. Solar panels based on III¿V high concentrator solar cells are about to be commercially available, and must compete with conventional systems based on silicon which have guarantees of approximately 25 years. This paper presents results of step-stress accelerated ageing tests carried out on these solar cells. Data have been analyzed according to Weibull reliability function. This analysis yields a lower value of the MTTF of 2.02  105 h (i.e. about 69.2 years assuming 8 h of average operation per day in a year) for a confidence interval of 90%.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,29
Información de impacto
Volumen
49
DOI
Número de revista
0
Desde la página
673
Hasta la página
680
Mes
JULIO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: J.R. González (Instituto de Energía Solar)
  • Participante: B. Galiana (Instituto de Energía Solar)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
  • Autor: Ignacio Rey-Stolle Prado (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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