Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
A New Model to Assess the Reliability of CPV Modules in Real Time Outdoor Tests
Año:2009
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
The reliability of CPV systems is a hot question considering that they must compete with silicon flat modules, which in turn have been demonstrated to be capable of withstand 25 years in field operation. In this paper, a summary of the IES-UPM achievements in this field is presented. A new method for assessing the reliability of CPV systems in real operation is needed and a first approach is presented. INTA-SPASOLAB is also getting involved in this subject and a new testing field has been installed.
Internacional
Si
Nombre congreso
34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Philadelphia, USA
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-2950-9
DOI
Fecha inicio congreso
07/06/2009
Fecha fin congreso
12/06/2009
Desde la página
786
Hasta la página
790
Título de las actas
Proceedings Conference
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: J.R. González (Instituto de Energía Solar)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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