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Abstract
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| Se analiza la influencia de las pérdidas del embudo en el desplazamiento en longitud de onda inducido por temperatura en diodos láser de punto cuántico en forma de embudo con emisión a 920 nm. Se presenta una comparación entre las pérdidas del embudo medidas experimentalmente y las obtenidas mediante simulaciones numéricas con un modelo auto consistente. | |
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International
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Si |
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JCR
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Si |
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Title
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APPL PHYS LETT |
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ISBN
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0003-6951 |
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Impact factor JCR
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3,596 |
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Impact info
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Volume
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91 |
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Journal number
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0 |
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To page
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Month
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AGOSTO |
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Ranking
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