Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
G.F. IRIARTE ''Structural characterization of highly textured AlN thin films grown on titanium'' Journal of Materials Research, 25 (3), 458-463 (2010)
Año:2010
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH
ISSN
0884-2914
Factor de impacto JCR
1,667
Información de impacto
Volumen
25
DOI
Número de revista
3
Desde la página
458
Hasta la página
463
Mes
ENERO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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