Memorias de investigación
Research Publications in journals:
G.F. IRIARTE ''Structural characterization of highly textured AlN thin films grown on titanium'' Journal of Materials Research, 25 (3), 458-463 (2010)
Year:2010

Research Areas
  • Engineering,
  • Electronic technology and of the communications

Information
Abstract
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
International
Si
JCR
Si
Title
JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH
ISBN
0884-2914
Impact factor JCR
1,667
Impact info
Volume
25
Journal number
3
From page
458
To page
463
Month
ENERO
Ranking
Participants

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología