Capítulo de libro:
G.F. IRIARTE ''Using Transmission Electron Microscopy (TEM) for Chemical Analysis of Semiconductors'' Microscopy: Science, Technology, Applications and Education, Book Chapter, Edittor: Formatex (2010)
Año:2010
Áreas de investigación
Ingenierías,
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación del GDS ISOM
Internacional
Si
DOI
Edición del Libro
0
Editorial del Libro
Edittor: Formatex (2010)
ISBN
0000000000000
Serie
Título del Libro
Microscopy: Science, Technology, Applications and Education
Desde página
1
Hasta página
10
Esta actividad pertenece a memorias de
investigación
Participantes
Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología