Capítulo de libro:
G.F. IRIARTE ''Using Transmission Electron Microscopy (TEM) for Chemical Analysis of Semiconductors'' Microscopy: Science, Technology, Applications and Education, Book Chapter, Edittor: Formatex (2010)
G.F. IRIARTE ''Using Transmission Electron Microscopy (TEM) for Chemical Analysis of Semiconductors'' Microscopy: Science, Technology, Applications and Education, Book Chapter, Edittor: Formatex (2010)
Año:2010
Áreas de investigación
-
Ingenierías, -
Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS ISOM | |
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Internacional
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Si |
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DOI
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Edición del Libro
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0 |
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Editorial del Libro
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Edittor: Formatex (2010) |
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ISBN
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0000000000000 |
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Serie
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Título del Libro
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Microscopy: Science, Technology, Applications and Education |
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1 |
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Hasta página
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10 |
Participantes
- Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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