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Descripción
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| Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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SOLID-STATE ELECTRONICS |
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ISSN
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0038-1101 |
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Factor de impacto JCR
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1,494 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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54 |
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Desde la página
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492 |
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Hasta la página
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496 |
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Mes
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ENERO |
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Ranking
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