Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
S. ALBERT, J. GRANDAL, M.A. SANCHEZ-GARCIA, P. LEFEBVRE, J. RISTIC, E. CALLEJA, A. VILALTA-CLEMENTE, B. LACROIX, P. RUTERANA, E. LUNA, U. JAHN, A. TRAMPERT. "MBE growth and characterization of InN/InGaN thin films and nanostructures on GaN templates and Si(111) substrates" 16th International MBE Conference Berlin (Germany) 2010
Año:2010
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
16th International MBE Conference Berlin (Germany) 2010
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
(Germany) 2010
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
22/08/2010
Fecha fin congreso
27/08/2010
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Título de las actas
"MBE growth and characterization of InN/InGaN thin films and nanostructures on GaN templates and Si(111) substrates"
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: S. ALBERT
  • Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
  • Autor: A. VILALTA-CLEMENTE
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: B. LACROIX
  • Autor: Pierre Lefebvre . (UPM)
  • Autor: P. RUTERANA
  • Autor: E. LUNA
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: U. JAHN
  • Autor: Steven Albert . (UPM)
  • Autor: A. TRAMPERT
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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