|
Abstract
|
|
|---|---|
| Análisis de la simulación del efecto de no absorción de espejos en la reducción del calentamiento en términos de temperatura, densidad de la portadora, ganancia de material y tasa de recombinación Shockly-Lea-Hall. | |
|
International
|
Si |
|
Congress
|
SPIE Conf. Physics and Simulation of Optoelectronic Devices |
|
|
960 |
|
Place
|
San Francisco, CA, USA |
|
Reviewers
|
Si |
|
ISBN/ISSN
|
0277-786X |
|
|
|
|
Start Date
|
23/01/2010 |
|
End Date
|
28/01/2010 |
|
From page
|
1 |
|
To page
|
11 |
|
|
Proceedings of SPIE Conf. Physics and Simulation of Optoelectronic Devices |