Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Reliability improvement in III-V concentrator solar cells by means of perimeter protection
Año:2010
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
This paper presents the evolution in the strategy to assess the reliability of III-V solar cells and a new thermal ageing test carried out over GaAs single junction solar cells at three different temperatures (130, 150 and 170ºC). The perimeter of the solar cells has been protected with silicone, which seems to be an effective way of enhancing the reliability of the solar cells. A preliminary analysis of the results indicates a mean time to failure (MTTF) one order of magnitude larger than the one obtained in a previous thermal test with the perimeter uncoated.
Internacional
Si
Nombre congreso
6th International Conference on Concentrating Photovoltaic Systems
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Friburgo (Alemania)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-0-7354-0827-2
DOI
Fecha inicio congreso
07/04/2010
Fecha fin congreso
09/04/2010
Desde la página
221
Hasta la página
224
Título de las actas
6th International Conference on Concentrating Photovoltaic Systems
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: José Ramón González Ciprián (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
  • Autor: Pilar Espinet González (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)