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Descripción
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| Comparación del espectro de ruido en diodos de GaAs y GaN mediante el método de Monte Carlo y modelos analíticos sencillos en condiciones estáticas y variables con el tiempo. | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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21st International Conference on Noise and Fluctuations |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Toronto, ON |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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978-1-4577-0189-4 |
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DOI
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10.1109/ICNF.2011.5994274 |
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Fecha inicio congreso
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12/06/2011 |
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Fecha fin congreso
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16/06/2011 |
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Desde la página
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106 |
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Hasta la página
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109 |
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Título de las actas
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Conference Publications |