Descripción de la patente
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado de la etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcionalizada obtenida por dicho método.
Situación
Concedida
Número de solicitud
P201830777
Número de publicación
ES2684851
Fecha de presentación
27/07/2018
Fecha de publicación
04/10/2018
Fecha de concesión
12/06/2019
Extensiones Internacionales
PCT
Referencia de la solicitud: PCT/ES2019/070456
Título: MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE
FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR
VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO
EUROPA
Referencia de la solicitud: 19841178.7
Título: METHOD FOR OBTAINING FUNCTIONALISED SENSOR TIPS FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY BY MEANS OF ACTIVATED VAPOUR SILANISATION AND TIPS OBTAINED USING SAID METHOD
Situacion: Presentada
PAÍSES
País: China
Número de solicitud: 201980049873.2
Titulo: Método para obtener puntas sensoras de microscopía de fuerza atómica funcionalizadas mediante silanización por vapor activado, y las puntas obtenidas por dicho método
Situación: Presentada
País: Estados Unidos
Número de solicitud: 17/261,066
Titulo: METHOD FOR OBTAINING FUNCTIONALISED SENSOR TIPS FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY BY MEANS OF ACTIVATED VAPOUR SILANISATION AND TIPS OBTAINED USING SAID METHOD
Situación: Concedida
